光時域反射儀詳解

光時域反射儀詳細簡介

光時域反射儀會打入一(yī)連串的(de)光突波進入光纖來檢驗。檢驗的(de)方式是由打入突波的(de)同一(yī)側接收光訊号，因為(wèi)打入的(de)訊号遇到不同折射率的(de)介質會散射及反射回來。反射回來的(de)光訊号強度會被量測到，并且是時間的(de)函數，因此可(kě)以将之轉算成光纖的(de)長(cháng)度。

光時域反射儀可(kě)以用來量測光纖的(de)長(cháng)度、衰減，包括光纖的(de)熔接處及轉接處皆可(kě)量測。在光纖斷掉時也可(kě)以用來量測中斷點。

OTDR動态範圍的(de)大小對測量精度的(de)影響初始背向散射電平與噪聲低(dī)電平的(de)DB差值被定義為(wèi)OTDR的(de)動态範圍。其中，背向散射電平初始點是入射光信号的(de)電平值，而噪聲低(dī)電平為(wèi)背向散射信号為(wèi)不可(kě)見信号。動态範圍的(de)大小決定OTDR可(kě)測光纖的(de)距離(lí)。當背向散射信号的(de)電平低(dī)于OTDR噪聲時，它就成為(wèi)不可(kě)見信号。

光時域反射儀随着光纖熔接技術的(de)發展，人們可(kě)以将光纖接頭的(de)損耗控制在0.1DB以下，為(wèi)實現對整條光纖的(de)所有小損耗的(de)光纖接頭進行有效觀測，人們需要大動态範圍的(de)OTDR。增大OTDR 動态範圍主要有兩個途徑：增加初始背向散射電平和(hé)降低(dī)噪聲低(dī)電平。影響初始背向散射電平的(de)因素是光的(de)脈沖寬度。影響噪聲低(dī)電平的(de)因素是掃描平均時間。 多數的(de)型号OTDR允許用戶選擇注入被測光纖的(de)光脈沖寬度參數。在幅度相同的(de)情況下，較寬脈沖會産生較大的(de)反射信号，即産生較高(gāo)的(de)背向散射電平，也就是說，光脈沖寬度越大，OTDR的(de)動态範圍越大。